プライマリ
日本語
鉱物分析システム
介在物解析システム
XRD&XRF
溶接顕微鏡
マクロイメージャ
イオンスパッタ
電子顕微鏡付属品製品
電子顕微鏡サンプル製品
とうかでんきょう
サンプリング装置
計器計器
英国BRIGHT高解像度カラーデジタルカメラoptech 405
SOLARUS(955)Plasma Cleaning Systemプラズマ洗浄器
タロス F200C TEM
走査/透過型電子顕微鏡Talos L 120 C TEM
ブライトMAS 600マクロイメージャ
ブライトWAS 5溶接ビード顕微鏡
OTS一結合介在物分析システム
Gatanアルゴンイオン研磨システムIlion II 697
Gatanその場加熱台Murano 525
ChromaCL 2第2世代リアルタイムカラー陰極発光イメージングシステム
全自動鋼における非金属介在物分析システム及びその応用
走査電子顕微鏡その場引張台-MICROTESTシリーズ
AMICS-Mining鉱物特性自動定量分析システム
SEM/FIB/EBSD用950°Cインサイチュ加熱ステージ−Murano 525
Gatan SmartEMIC電子ビーム誘導電流測定システム
MICROTESTシリーズその場動引張試験台
Coxem SPT-20イオンスパッタリング装置
英国VacCoatシリーズイオンスパッタリング装置
ARL™ QUANT'X EDXRF分光器
精密エッチングめっきシステムPECS II 685
Successful operation!