プライマリ
日本語
分光分析機器（UV-Vis/NIR、FL）
原子吸収分光光度計（AA）
電位滴定器・カールフィッシャー水分滴定器
パネルゲージ
差圧・圧力変換器シリーズ
周辺機器
原子間力顕微鏡
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
計器計器
HINL 200 Aシリーズ演算器
HINL 100 A/200 Aシリーズ信号変換器
Primaideアフラトキシン（ポストカラム光化学誘導体）分析システム
超高分解ショットキー電界放出走査電子顕微鏡SU 8700
遠伝式圧力変換器EPR-N 7 S
遠伝式液面トランスミッタEDR-N 7 FS
紫外/可視/近赤外分光光度計UH 4150 AD+
イオン研磨計IM 4000 II
多機能走査プローブ顕微鏡AFM 100 Plus/AFM 100システム
超高分解能電界放出走査電子顕微鏡SU 8600シリーズ
レーザ加工装置
衛生型差圧トランスミッタEDR-N 7 SD
衛生型圧力変換器EPR-N 7 SD
差圧トランスミッタEDR−N 7 P
高温高真空仕様差圧トランスミッタEDR-N 7 S-SVT
フランジ式絶対圧力変換器EDR-N 7 AF
超高分解能電界放出走査電子顕微鏡Regulusシリーズ
蛍光分布イメージングシステムEEM View
イオン研磨機ArBlade 5000
全自動型原子間力顕微鏡AFM 5500 M
電界放出透過型電子顕微鏡HF-3300
自動滴定器COM-1700/1750シリーズ
蛍光分光光度計F-2700
日立ZA 3000原子吸収分光光度計の革新はとどまるところを知らない
カルフィッシュクーロン自動滴定器AQ-2200シリーズ
Successful operation!
