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電界放出透過型電子顕微鏡HF-3300
日立の名を馳せる冷電界放出電子源と300 kV加速電圧技術が共同で超高解像度イメージングと高感度分析機能を構築した。デュアルプリズムホログラフィー技術、空間分解電子エネルギー損失スペクトル及び高精度平行ナノ電子ビーム回折技術は高効率、高精度サンプル分析の新しい道を切り開いた。
製品の詳細

電界放出透過型電子顕微鏡HF-3300

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场发射透射电子显微镜 HF-3300

日立の名を馳せる冷電界放出電子源と300 kV加速電圧技術が共同で超高解像度イメージングと高感度分析機能を構築した。デュアルプリズムホログラフィー技術、空間分解電子エネルギー損失スペクトル及び高精度平行ナノ電子ビーム回折技術は高効率、高精度サンプル分析の新しい道を切り開いた。

特徴

解像度

0.1 nm(結晶格子)
0.19 nm(点対点)
0.13 nm(情報限界)

拡大倍率

200倍~150000倍

かそくでんあつ

300 kV, 200 kV*, 100 kV*

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関連製品区分

  • しゅうそくイオンビーム
  • TEM/SEMサンプルの前処理装置
オンライン照会
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