X線めっき層厚測定器の特徴

• 金層の厚さ測定、銀層の厚さ測定、化金の厚さなど、用途の広いめっき層の厚さ測定器。
• 任意の高圧とフィルタを組み合わせることにより、50 nm Auや100μm Snなどの薄いめっき層と厚いめっき層に対して同様の効果の測定を行うことができる.
• 搭載されたマイクロフォーカスチューブは、100μmサイズの微小測定点を測定することができます。
• スケールカウンタは数千cps（毎秒カウント率）の高いカウント率を実現することができる。
• 下から上への放射線方向により、迅速かつ簡便にサンプルを置くことができる。
• 底部C型開槽の大容量測定室。

X線めっき層厚測定器の典型的な応用分野

• 配線板工業におけるAu/Ni/Cu/PCBまたはSn/Cu/PCB中のめっき層の測定
• 電子業界におけるコネクタと接点上のめっき層
• 装飾めっきCr/Ni/Cu/ABS
• 大規模生産部品（ボルトとナット）上の腐食防止保護層Zn/Feなどのめっきめっき層、ZnNi/Fe
• ジュエリーと時計工業。
• めっき液中の金属成分含有量、例えば金層厚、銀層厚を測定する。