TT 260コーティング層厚試験器 ヘッドタイプ オプション、付表参照 そくていげんり 磁気誘導と電流渦 測定範囲 プローブ決定 ていげんぶんかいのう プローブ決定 プローブ接続方式 セパレータワイヤ接続(交換可能) ひょうじごさ 一点較正(um) プローブ決定 2点較正(um) プローブ決定 測定条件 小曲率半径(mm) プローブ決定 基体小面積の直径(mm) プローブ決定 小臨界厚さ(mm) プローブ決定 おんしつど 0~40℃ 統計機能 平均値(MEAN)、値(MAX)、小値(MIN)、 動作モード 直接方式(DIRECT)とグループ方式(Appl) 測定方法 連続測定方式(CONTINUE)と単回測定方式(SINGLE) 上下限の設定 あります ストレージ容量 495個の測定値 コンピュータの印刷/接続 プリンタを持参する/コンピュータに接続できる シャットダウンモード 手動と自動 電源装置 1/2ニッケル水素電池5×1.2 V 外形寸法 270×86×47mm じゅうりょう 530g ヘッド型式 F400 F1 F1/90 F10 N1 CN02 動作原理 じきゆうどう でんきうずでんりゅう 測定範囲(um) 0-400 0-1250 0-10000 0-1250(銅にクロム0-40 umめっき) 10-200 ていげんぶんかいりょく(um) 0.1 0.1 10 0.1 1 ひょうじごさ 一点較正(um) ±[3%H+1] ±[3%H+10] ±[3%H+1.5] ±[3%H+1] 2点較正(um) ±[(1~3)%H+0.7] ±[(1~3)%H+1] ±[(1~3)%H+10] ±[(1~3)%H+1.5] - 測定条件 小曲率半径(mm) 凸1 凸1.5 まっすぐ 10 3 まっすぐ 基体小面積の直径(mm) ф3 ф7 ф7 ф40 ф5 ф7 小臨界厚さ(mm) 0.2 0.5 0.5 2 0.3 制限なし オーバレイ 有機材料等の非磁性被覆層 (のように:塗料、塗装、エナメル、エナメル、プラスチック及び陽極化処理等) 非磁性の非鉄金属被覆層(のように:クロム、亜鉛、アルミニウム、銅、錫、銀など) 被覆層の厚みは100µmを超えない 被覆層の厚みが100µmを超える 被覆層の厚みは100µmを超えない 被覆層の厚みが100µmを超える 鉄、鋼など 測定面積の直径は30 mmより大きい F 400型ヘッド0~400µm F 1型測定ヘッド0~1250µm F 400型ヘッド0~400µm F 1型測定ヘッド0~1250µm 測定面積の直径が30 mm未満 F 400型ヘッド0~400µm F 400型ヘッド0~400µm F 400型ヘッド0~400µm F 400型ヘッド0~400µm 銅、アルミニウム、 測定面積の直径は5 mmより大きい N 1型プローブ0~1250µm 銅上のクロムメッキN 1型ヘッドのみに使用する0~40µm プラスチック、プリント配線非金属基体 測定面積の直径は7 mmより大きい - - CN 02型測定ヘッド10~200µm
一、機能特徴
TT 260コーティング層厚測定器は磁性と渦電流の2種類の厚さ測定方法を採用し、磁性金属基体(例えば鋼、鉄、合金と硬磁性鋼など)上の非磁性被覆層の厚さ(例えば亜鉛、アルミニウム、クロム、銅、ゴム、ペンキなど)及び非磁性金属基体(例えば銅、アルミニウム、亜鉛、錫など)上の非導電被覆層の厚さ(例えば:ゴム、ペンキ、プラスチック、陽極酸化膜など)を損傷なく測定することができる。
7種類の測定ヘッド(F 400、F 1、F 1/90°、F10、CN02、N1)
連続測定方式(CONTINUE)と単回測定方式(SINGLE)、
直接方式(DIRECT)とグループ方式(A-B)、
5つの統計量:平均値(MEAN)、値(MAX)、小値(MIN)、試験回数(NO.)、標準偏差(S.DEV)、
2種類の方法を用いて計器を校正し、基本校正法を用いて測定ヘッドのシステム誤差を修正することができる、
保存機能を有する:495個の測定値を保存することができる、
削除機能があります:測定中に現れた単一の不審なデータを削除して、保存区内のすべてのデータを削除して、新しい測定を行うことができます、
制限を設けることができる:制限外の測定値に対して自動的に警報を鳴らすことができる、そしてヒストグラムを用いて一連の測定値を分割する
分析する
印刷機能を有する:印刷可能な測定値、統計値、限界、ヒストグラム、
PC機と通信する機能:測定値、統計値をPC機に転送し、データを前進させることができる
ステップ処理
電源不足電圧指示機能を有する、
操作過程にビープ音の提示がある、
画面表示やビープ音によるエラーメッセージ機能、
手動シャットダウンと自動シャットダウンの2種類のシャットダウン方法があります。
本装置は以下の基準を満たしている:GB/T 4956-1985磁性金属基体上の非磁性被覆層厚さ測定磁性方法GB/T 4957-1985非磁性金属基体上の非導電被覆層厚さ測定渦電流方法JB/T 8393-1996磁性と渦電流式被覆層厚さ測定器JJG 889-95「磁気抵抗法厚さ測定器」JJG 818-93「電気渦電流式厚さ測定器」
二、TT 260コーティング層厚試験器技術パラメータ
20%RH~90%RH
試験回数(NO.)、標準偏差(S.DEV)
TT 260コーティング層厚試験器オプションプローブパラメータテーブル
マトリックス
とうじせいきんぞく
F 1型測定ヘッド0~1250µm
F 10型ヘッド0~10 mm
F 1型測定ヘッド0~1250µm
F 10型ヘッド0~10 mm
F 1型測定ヘッド0~1250µm
F 1型測定ヘッド0~1250µm
黄銅、亜鉛、錫
とう非鉄金属
TT 260コーティング層厚試験器