HAST高圧加速老化試験箱はICパッケージ、半導体、マイクロ電子チップ、磁性材料及びその他の電子部品は、高圧、高温、不飽和/飽和湿熱、等加速寿命信頼性試験は、製品の設計段階で、製品の欠陥と脆弱性を迅速に暴露するために使用される。その製品の密封性と老化性能をテストする。
HAST CHAMBER超加速寿命試験機とも呼ばれる,電子部品や機械部品の摩耗や使用寿命の問題が発生した時期を調査分析するための試験設備であり、環境応力と作業応力を高め、試験過程を速めて製品やシステムの寿命試験時間を短縮することを目的としている。広く使用されているPCB、LCD Board、電池、容量、抵抗、IC半導体、コネクタ、配線板、磁性材料、高分子材料、EVA、光起電力モジュール及びその他の電子部品の高温、高湿、高圧などの信頼性試験などの業界。
威邦高圧加速老化試験箱は最新の最適化設計を採用し、美しく気前がよく、細工が細かく、対応するIEC60068-2-66条件、直接箱内の温湿度を測定する乾、湿球温度センサーを有する、緩降圧、排気、排水機能を有し、試験終了後の圧力温度の急変を回避するように制御し、試験結果の正確さを保証する。
◆内胆は二重円弧設計を採用する,試験結露滴水現象を防止でき、それによって製品が試験中に過熱蒸気の直接衝撃を受けて試験結果に影響を与えることを避けることができる。
◆高効率真空ポンプを採用し、箱内を最適な純飽和蒸気状態にする。
◆採用7インチ真彩式タッチスクリーン、所有250グループ化12500セグメントプログラムUSB曲線データダウンロード機能、RS-485通信インタフェース。
◆自動車級シリカゲル全体のシールストリップは、気密性がよく、耐久性がある。
◆全自動水分補給機能,前置式水位確認。
◆乾湿球センサーを用いた直接測定(制御モードは、乾湿球、不飽和、湿潤飽和などに分けられる3パターン)。
モデル |
WBE-HAST-35 |
WBE-HAST-40 |
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寸法パラメータ単位cm |
内箱サイズ |
ちょつけいΦ |
35 |
40 |
深さD |
45 |
45 |
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外箱サイズ |
幅W |
73 |
75 |
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高H |
163 |
155 |
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深さD |
110 |
130 |
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パフォーマンス パラメータ |
温度範囲(飽和/非飽和) |
105~151.4℃(100%R.H);105.0~133.3℃(100%R.H) |
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110.0~157.5℃(85%R.H);110.0~140.0℃(85%R.H) | ||||
118.0~162.5℃(65%R.H);118.0~150.0℃(65%R.H) | ||||
しつどはんい |
65%~100%R.H |
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圧力範囲(飽和/非飽和) |
0.019~0.393Mpa |
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0.019~0.208Mpa | ||||
おんどへんどうど |
±0.5℃ |
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温度均一性 |
±0.5℃ |
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しつどへんどうど |
±2.0%R.H |
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しつどへんさ |
±5.0%R.H |
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あつりょくへんさ |
≤±2Kpa |
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しょうおんそくど |
+25℃~ 135℃、全行程平均約45 min(空荷、発熱なし) |
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昇圧時間 |
0→0.196Mpa約20min |
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温度、湿度、圧力範囲 |
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ボックス材質 |
外箱材料 |
高品質防腐電解板、表面静電粉体焼付塗料 |
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インナタンク材料 |
SUS316ステンレス板内胆全体を完全に溶接したもの |
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ほおんそう |
超微細ガラス保温層、難燃レベルA 1 |
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かんそうおん |
≤60デシベル(dB)(騒音検出装置距離機器ゲート1mしょうそくりょう) |
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コントローラコントローラ |
7インチカラータッチスクリーンインテリジェントファジィコントローラ、圧力温湿度版オペレーティングシステム搭載 |
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使用条件 |
1.+5℃~+35℃ 2.相対湿度:85%R.H以下 3.大気圧:80 kpa ~ 106 kpa 4 .平坦で振動のない地面 |
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ほごそうち |
a. ヒータ空焚き防止保護スイッチ b. ヒータ過電流遮断器 c. 循環ファン過電流過負荷保護 d. コンプレッサ高圧保護スイッチ e. コンプレッサ過熱保護スイッチ f. コンプレッサ過電流保護スイッチ g. 過電圧非反転相保護スイッチ h. せんろしゃだんき i. リークスイッチ j. ゼロクロスゲート流体電力制御装置 k. 渇水保護 |