機器概要：

20年以上の技術蓄積と発展の結晶であり、高精度、高感度、高安定性の古典的な偏光解析モデルである。透明な基板上でも、極薄膜を最も正確に測定することができる。PEM位相変調技術を用いて、機械回転部品技術に比べて、より良い安定性と信号対雑音比を提供することができる。

技術パラメータ：

オプションのスペクトル範囲：

* UVISEL Extended Range(190nm -2100 nm)

* UVISEL NIR (250 nm -2100 nm )

* UVISEL VIS (210 nm -880 nm )

* UVISEL FUV(190 nm -880 nm )

* UVISEL VUV(142 nm -880 nm )

*さまざまな実用的なスポットサイズオプション

*検出器：最適化されたPMTとIGA検出器を紫外、可視、近赤外にそれぞれ提供

*自動試料台サイズ：複数種類の試料台を選択可能

*自動角測定器：可変角度範囲35°-90°、全自動調整、最小ステップ長0.01°

主な特徴：

*50 KHz高周波PEM位相変調技術、光路中に運動部品がないことを測定する

*超薄膜に必要な測定精度を備え、超厚膜に必要な高スペクトル分解能

*オンラインでのリアルタイム監視に使用できるミリ秒レベルの超高速動的収集モード

*自動プラットフォームサンプルのスキャンイメージング、温度変化テーブル、電気化学反応槽、液体槽、密封槽などの多種の付属品

*柔軟な構成