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Park NX 12原子間力顕微鏡
−原子間力顕微鏡(AFM)は、ナノスケールの分解能イメージング、及び電気、磁気、熱及び機械的性能測定の能力を有する。−ナノチューブ走査システムは、高分解能走査イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)に使用することができる。−倒置光学顕微鏡(IOM)は、透明材料の研究と蛍光顕微鏡の一体化を容易にする。
製品の詳細
産地カテゴリ | インレット |
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Park NX 12はいずれのプロジェクトにも使用できます。NXシリーズの多くのスキャンモードとモジュール化された設計により、どのスキャンプローブ顕微鏡のニーズにも簡単に対応できます。
標準イメージング:
- 真の非接触モードAFM
- 接触モードAFM
- 横力顕微鏡(LFM)
- いそうイメージング
- タッピングAAFM
電気性能:
- 導電性AFM
- I−Vスペクトル線
- 走査ケルビンプローブ顕微鏡(SKPM/KPM)
- 高電圧SKPM
- 走査容量顕微鏡(SCM)
- 走査抵抗顕微鏡(SSRM)
- 走査トンネル顕微鏡(STM)
- 走査トンネル分光法(STS)
- 時間分解光電流マッピング(Tr−PCM)
磁気エネルギー:
- 磁気力顕微鏡(MFM)
- 可変同調印加磁場MFM
化学的性質:
- 走査電気化学セル顕微鏡(SECM)
- 走査電気化学顕微鏡(SECM)
- 電気化学顕微鏡(EC−STMおよびEC−AFM)
- 機能化プローブの化学力顕微鏡
熱性能:
- 走査熱感顕微鏡(SThM)
光学性能:
- プローブ増強Raman分光法(TERS)
- 時間分解光電流マッピング(Tr−PCM)
誘電体/圧電特性:
- 静電力顕微鏡(EFM)
- 動的接触式静電力顕微鏡(DC−EFM)
- 圧電力顕微鏡(PFM)
- 高電圧PFM
きかいてきせいのう
- Pinpointナノ力学マッピング
- 力変調顕微鏡(FMM)
- ナノインデンテーション
- ナノエッチング
- 高電圧ナノエッチング
- ナノ操縦
- 圧電力顕微鏡(PFM)
フォースメジャー:
- 力−距離(F−D)スペクトル
- ちからたいせきイメージング
- ねつざつおんほうしきだんせいけいすう
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オンライン照会