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DASI-V 2全自動シングルコアおよびMT-RJコネクタ専用
DAISIは光ファイバ端面の幾何学的パラメータを測定するための機器であり、光ファイバコネクタと光ファイバデバイス製造メーカーの重要な品質検査機器の1つである。本製品は生産用に設計されたデジタル全自動端面検出干渉計であり、単芯及びMT-RJコネクタ端面の幾何形状を迅速かつ正確に測定することができる。
製品の詳細
特性
単機測定PC/APC形式挿入コア、コネクタ及びベアファイバ
非接触測定
高速オートフォーカス
シンプルなワンタッチ制御
自動頂点キャリブレーション用サーボ制御データムミラー
自動ロック機能を備えた業界で最も耐久性の高いソケット治具
外部運動部品または調整ネジなし
振動が鈍い
PCとAPCの間を迅速に切り替え、ソケット治具を交換する必要がない
さまざまなコネクタアダプタを搭載しており、特殊な設計によりクリップを簡単に取り付けることができます
個別のUSB 2.0接続ケーブルでコンピュータを接続する
MT-RJ測定用の白色光走査機能に拡張可能
測定
曲率半径、頂点オフセット、ファイバ高さなどのパラメータを高速自動測定する
光ファイバ及びプラグコアの表面粗さを測定する
裸光ファイバの切断角度を高精度に測定
測定データは正確で、再現性が良い
高精細度2 D&3 D画像
Excelフォーマット試験レポート及び試験履歴データレポート
干渉測定は業界標準に準拠している
本装置は主に以下のパラメータを測定する：
曲率半径--Ferrule Radius、
頂点オフセット--Apex Offset、
光ファイバの高さ--ファイバーハイト
同時に、光ファイバ曲率半径、光ファイバ平面高さ、角度、キー誤差、光ファイバ直径、光ファイバ/フェルール粗さ及びMT-RJ試験を測定することもできる。
測定
本装置は主に以下のパラメータを測定する：
曲率半径--Ferrule Radius、
頂点オフセット--Apex Offset、
光ファイバの高さ--ファイバーハイト
同時に、光ファイバ曲率半径、光ファイバ平面高さ、角度、キー誤差、光ファイバ直径、光ファイバ/フェルール粗さ及びMT-RJ試験を測定することもできる。
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