Contracx-200光学プロファイル計は先進的な特性を提供し、カスタマイズされた選択の優れた混合、そして使いやすい*良いレベル、迅速、正確、繰り返し可能な非接触三次元表面計量を提供する。この計器能力、小さな足跡システムは妥協しない2 D/3 D高解像度測定能力を提供し、より大きなFOV 5 MPデジタルカメラと新しい機動XYステージを使用する。****のZ軸解像度と精度を持つため、Contracx-200は、従来の共焦点顕微鏡や標準的な光学プロファイルに制限されることなく、Bruker社独自の白色光干渉測定（WLI）技術のすべての業界で公認されている利点を提供します。

妥協しない、*良い等級計量学

40年以上にわたる煉瓦利WLI**に基づいて、ConアークX-200光学輪郭計は、定量計量学に必要な低ノイズ、高速、**および**の結果を示している。複数のターゲットと統合された特徴認識を使用することにより、特徴は異なる視域とサブナノ垂直分解能で追跡することができ、非常に多様な業界における品質制御とプロセス監視の応用に独立した結果を提供する。Contracx-200はすべての表面の場合、0.05%から100%の反射率で安定である.新しいハードウェア機能には、**の舞台設計のより大きなパッチワーク能力と5 MPカメラと1200 x 1000の測定アレイが含まれ、騒音、より大きな視野、より高い横解像度を低減します。

*広範な応用分析能力

強力なVisionXpressとVision 64ユーザーインタフェースを使用して、Contracex-200は実験室と工場のフロアの生産性に数千種類のカスタム分析を提供しています。Brukerの新しい汎用走査干渉測定（USI）測定モードは、全自動、自己感知の表面テクスチャ、最適化された信号処理を提供するとともに、分析中の表面形態の***と真の計算を提供する。このシステムの新しいカメラが提供するより大きな視野と新しい機動XYステージが提供する柔軟性は、より多くの柔軟性とより高いスループット範囲の広いサンプルと部品を可能にする。ハードウェアとソフトウェアを組み合わせて、比較可能な計量能力を完全に超えた流線型の*高光学性能を提供します。