完全自動化されたContour Elite X三次元光学プロファイルは、****の測定能力を結合し、業界*の大視野と高忠実度カラーまたは単色イメージングの*高垂直分解能を実現します。このような広範な生産計量アプリケーションを解決するために、非接触精度、スループット、オペレータの利便性、およびイメージング能力を提供する他の計量システムはありません。*厳しい研究開発、品質保証、プロセス品質管理のニーズに対応するように設計されています。Contour Elite X*最終的な測定器能力の3次元光学断面ソリューションを提供します。

カラーイメージングと計量の組み合わせ

付加的な高忠実カラーイメージング、サイドライトと**のアルゴリズム、使用などContour Elite Xユーザーは追加の視点、提供できないシステムにアクセスし、計量学を単独で提供し、識別可能な表面特徴の詳細を報告する能力を提供する。これにより、ユーザーは色または階調情報に基づいてデータを分割して、関心のある領域を迅速に選択し、これらの特定の領域から重要な計量データを収集することができます。優れた計量学と測定結果を観察、識別、表示する能力を結合することは、データを理解するだけでなく、コミュニケーション結果にとっても非常に重要である。

*横方向と縦方向の解像度が良い

Contour Elite Xシステムは業界の*大視野を超えて横方向と縦方向の解像度を*良い組み合わせで持ち、サブナノメートルから10ミリ以上の垂直範囲がある。これには、回折限界を打破するための光学的測定を提供する100賞の鍼灸XR測定技術が含まれています。また、本システムは、100万画素のカメラを用いるX-Y空間分解能を向上させることもできる.1倍から115倍の大視野と客観的拡大により、非常に広い表面形状とテクスチャを記述することができます。

高速非破壊イメージング

Contour Elite Xタイプパーサーは、サンプルまたは一部が完全で破損していないようにする非接触システムと大きなステージです。我々の＊白色光干渉測定（WLI）技術は、増幅使用とは独立して高度なデータのサブナノ精度を得る。これは、1ミリメートル範囲で100万個を超えるデータ点である平方画像領域をサンプリングしても、ユーザは数秒以内に高解像度の高データを収集できることを意味する。